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2015-6

密度計(jì)-簡(jiǎn)介：密度計(jì)（DensityMeter）測(cè)量的基本原理是，衡量感光材料曝光和顯的變黑程度即黑度。在制版時(shí)，感光材料上的溴化銀，受到光照作用，顯還原成金屬銀，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。帶有濾光片的測(cè)量計(jì)，還可以測(cè)量彩色原稿的彩色密度。其測(cè)量原理與上述基本原理相近。常用密度計(jì)有兩種，一種測(cè)密度比純水大的液體密度，叫重表；另一種測(cè)密度比純水小的液體，叫輕表。密度計(jì)-分類：按照密度計(jì)的應(yīng)用場(chǎng)景不同，可以將密度計(jì)分為臺(tái)式密度計(jì)和便攜式密度計(jì)。按測(cè)量的...

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2015-6

表面電阻率測(cè)試儀高阻測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)

表面電阻率測(cè)試儀在很多方面都有所應(yīng)用，比較典型的應(yīng)用有以下幾種：1.測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值2.測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率3.測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值4.測(cè)量絕緣材料電阻(率)5.光電二極管暗電流測(cè)量6.物理，光學(xué)和材料研究表面電阻率測(cè)試儀用于高阻測(cè)量時(shí)一定要嚴(yán)格按使用方法進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。具體步驟如下：1、應(yīng)在“Rx”兩端開路時(shí)調(diào)零(主機(jī)開機(jī))。如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過程中不需再調(diào)零，...

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2015-5

一看便知粉體綜合測(cè)試儀如何安裝

粉體綜合測(cè)試儀的安裝，其實(shí)不難，相信通過本文我們的介紹，您一看便知!粉體綜合測(cè)試儀的安裝，對(duì)于工作環(huán)境和安裝位置，安裝人員都有一定的要求。具體如下：一、粉體綜合測(cè)試儀工作環(huán)境和安裝位置的要求1)溫度在5℃—40℃之間，相對(duì)濕度小于85%。2)環(huán)境整潔無煙塵。3)周圍沒有機(jī)械振動(dòng)源或電磁干擾源。4)工作臺(tái)必須牢固、水平，高度適當(dāng)。二、粉體綜合測(cè)試儀安裝人員的要求本系統(tǒng)的安裝人員應(yīng)先閱讀本說明書，然后再進(jìn)行安裝。如有疑問請(qǐng)立即與廠家取得，請(qǐng)求廠家提供。粉體綜合測(cè)試儀拆箱步驟及注意...

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2015-5

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀的意義和測(cè)量參數(shù)

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀采用固定的接料筒配置不同出口孔徑之漏斗來解決不同粉體因粉體本身物性而流動(dòng)性差，無法流動(dòng)的現(xiàn)象。粉體結(jié)拱是生產(chǎn)中的常見問題，直接影響到粉體的流動(dòng)特性，甚至影響到產(chǎn)品質(zhì)量。粉末的流動(dòng)性測(cè)量在粉體工程設(shè)計(jì)中應(yīng)用范圍很廣，粉末的流動(dòng)性對(duì)其生產(chǎn)、輸送、儲(chǔ)存、裝填以及工業(yè)中的粉末冶金、醫(yī)藥中不同組分的混合、在水泥廠中粉體的重力流動(dòng)、農(nóng)林業(yè)中殺蟲劑的噴撒等工藝過程都具有重要的意義，因此粉體流動(dòng)性能的測(cè)量就變得尤為重要。影響粉體流動(dòng)性的因素非常復(fù)雜，粒徑分布和顆粒形狀對(duì)粉體的...

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2015-5

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀的三種分析方法

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀對(duì)于粉末流動(dòng)性的檢測(cè)通常有三種方法：◆通過一個(gè)孔來流動(dòng)◆剪切池◆固定的一個(gè)角度我們一一來看下：一、圓筒附件(通過一個(gè)孔來流動(dòng))zui常用的方法是：一定量的粉末通過已知大小孔徑的時(shí)間。當(dāng)粉末流過孔徑時(shí)，很多十分重要的因素影響我們對(duì)其判斷，甚至超過了粉末本身的性能特征，這些因素包含：測(cè)試設(shè)備的材質(zhì)、形狀;粉末堆積的直徑、高度和孔的形狀。藥典中建議使用圓形的容器，以增強(qiáng)粉末之間的流動(dòng)，同時(shí)盡量減少容器材質(zhì)差異性對(duì)粉末流動(dòng)性的影響。即使這樣，該技術(shù)也只適合非粘性粉末的...

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2015-5

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)要求

適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN1149-1-1995《防護(hù)服靜電性能部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測(cè)通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...

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2015-3

硅片電阻率測(cè)量方法，四探針方阻儀原理

本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)...

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2015-1

粉末電阻率測(cè)試儀組成結(jié)構(gòu)功能說明

粉末電阻率測(cè)試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。粉末電阻率測(cè)試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。適用于有機(jī)、無機(jī)粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)...

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